GIS內(nèi)部的典型絕緣缺陷大體上分為毛刺放電、懸浮放電、自由顆粒放電、毛刺放電、絕緣子表面污穢以及空穴放電。GIS殼體或?qū)w上的毛刺尖端通常由于加工、運(yùn)輸或安裝時(shí)的摩擦或碰撞形成的，其電場(chǎng)相對(duì)集中，超聲波脈沖信號(hào)50Hz相關(guān)性較100Hz相關(guān)性表現(xiàn)的更為明顯；電動(dòng)力和機(jī)械力造成的零配件松動(dòng)或接觸不良引起的懸浮放電發(fā)生在正負(fù)半周的電壓上升沿，因此100Hz相關(guān)性遠(yuǎn)大于50Hz相關(guān)性，脈沖信號(hào)比較穩(wěn)定，同時(shí)通常伴有機(jī)械振動(dòng)；自由顆粒產(chǎn)生的超聲波信號(hào)大部分由顆粒與殼體撞擊產(chǎn)生的聲波脈沖組成；絕緣子表面的缺陷和內(nèi)部空穴會(huì)引起絕緣子沿面或內(nèi)部放電使絕緣子老化甚至發(fā)生閃絡(luò)，但超聲波局部放電檢測(cè)法對(duì)空穴放電并不靈敏。
   
在GIS帶電檢測(cè)時(shí)，若超聲波局部放電檢測(cè)法測(cè)到異常信號(hào)，正常情況下的判斷方法是與同一部位其他相或同一相其他部位的信號(hào)進(jìn)行對(duì)比，而對(duì)于毛刺放電、懸浮放電、自由顆粒以及機(jī)械振動(dòng)等四類超聲波法靈敏的典型缺陷，則可以根據(jù)其典型放電圖譜進(jìn)行判斷。