對局部放電過程中產(chǎn)生的光輻射進(jìn)行測量可以己達(dá)到對局部放電定性、定位的目標(biāo)。光測法一般分為可見光檢測法和紫外線檢測法。
(一)光輻射的產(chǎn)生：
光輻射主要是在粒子(原子、離子或分子)從激勵(lì)狀態(tài)(高能級)恢復(fù)到基態(tài)(低能級)過程(稱為電子躍遷)，或正、負(fù)離子與電子的復(fù)合過程中產(chǎn)生。對局部放電釋放的光波內(nèi)包括紫外、可見光、紅外三個(gè)譜段。
電磁波譜
同時(shí)試驗(yàn)證明隨著發(fā)生局部放電部位場強(qiáng)與其輻射出的紫外區(qū)域能量呈正相關(guān)。
(二)紫外線局部放電檢測原理：
紫外線的波長范圍為100-400nm，這個(gè)波長范圍與太陽光中的紫外線波長有交集，但地球表面被一層距離地面20km-50km的臭氧層包裹，臭氧層對日光中的紫外線有較強(qiáng)的吸收能力，透過臭氧層的吸收最終到達(dá)地球表面的紫外線波長都在280nm以上，低于280nm的紫外線波長范圍內(nèi)都較少受到日光的干擾，我們把低于280nm的紫外線區(qū)域稱為“日盲區(qū)”。因此在“日盲區(qū)”波長范圍內(nèi)對設(shè)備局部放電產(chǎn)生的紫外線進(jìn)行觀測可以取得較好的效果。下圖為一般情況下紫外線成像系統(tǒng)的工作原理圖。設(shè)備接受到被測光源與背景光源的混合信號進(jìn)入光學(xué)處理設(shè)備，被紫外光束分離器分離成可見光和紫外線，前者經(jīng)過濾波和信號放大以后進(jìn)入可見光鏡頭，后者通過“日盲”濾鏡，濾掉日盲區(qū)以外的紫外線，并在紫外線感光元件上形成紫外圖像，之后經(jīng)過圖像處理系統(tǒng)將兩者疊加，就可在顯示屏上看到實(shí)時(shí)圖像與對應(yīng)的紫外線產(chǎn)生情況。
(三)紫外線局部放電檢測應(yīng)用范圍：
1. 絕緣子檢查：可對運(yùn)行中輸電線路絕緣子串(瓷質(zhì)絕緣子，復(fù)合絕緣子、玻璃絕緣子)、各類型設(shè)備引線套管的缺陷、劣化、表面污穢、反污涂料涂飾不合格等造成的表面放電進(jìn)行檢查。2. 高壓、超高壓、特高壓輸電線路導(dǎo)線檢查：架空線路在架設(shè)過程中導(dǎo)線可能因?yàn)橥献В瑥埩Ψ啪€甩尾，安裝金具過程中造成表面損傷、斷股、散股、毛刺、截面變形等缺陷，運(yùn)行過程中會發(fā)生較強(qiáng)電暈現(xiàn)象，用紫外線局部放電檢測設(shè)備可對故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。
3. 電氣設(shè)備外絕緣污穢程度檢查：電氣設(shè)備外絕緣積污到一定程度(沿海，高鹽，重工業(yè)區(qū)、礦煤等產(chǎn)區(qū)更嚴(yán)重)，在一定濕度和外加電壓情況下會產(chǎn)生放電，通過紫外線局部放電檢測設(shè)備可間接的定性或非嚴(yán)格定量的檢測出電氣設(shè)備的積污程度和污穢分布狀況。
4. 電氣設(shè)備交接試驗(yàn)：電氣設(shè)備進(jìn)行交接試驗(yàn)時(shí)，可直觀的檢測出設(shè)備設(shè)計(jì)缺陷、制造工藝缺陷以及運(yùn)輸組裝過程中對設(shè)備表面造成的損傷，可有效避免“傷、病”設(shè)備投入運(yùn)行。
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