在ACSD和ACLD試驗(yàn)中，均提到了局部放電測(cè)量背景噪聲，在兩個(gè)試驗(yàn)中均規(guī)定噪聲水平應(yīng)不大于100pC。但在更多情況下，為了保證能檢測(cè)并記錄局部放電的起始和熄滅電壓，且考慮1.1Um/√3電壓下可接受的放電量為100pC，因此推薦背景噪聲水平遠(yuǎn)低100pC。而局部放電背景噪聲水平是由干擾決定的，嚴(yán)重的干擾信號(hào)可使局部放電測(cè)量無法進(jìn)行，因此局部放電測(cè)量中的抗干擾措施是十分重要的。
在局部放電測(cè)量試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)以及局部放電在線監(jiān)測(cè)過程中存在多種干擾源，使得干擾信號(hào)也不盡相同。要有效的消除或降低干擾，必須先找到干擾源，從干擾源入手。干擾的來源很多，如電力系統(tǒng)諧波、電磁場(chǎng)輻射、試驗(yàn)回路接線或接地不良、試驗(yàn)設(shè)備或非測(cè)量設(shè)備的內(nèi)部放電、閉合或開斷電力系統(tǒng)中的開關(guān)引起的電弧、閉合或開斷晶閘管引起的脈沖電流以及懸浮帶電金屬體的放電等，干擾源不同，干擾信號(hào)的波形特征也不相同。干擾類型及干擾來源大致分類見下表。
1. 噪聲干擾類型
2. 抑制減弱干擾措施
根據(jù)干擾的來源，可以采取濾波、屏蔽以及可靠接地等措施抑制或減弱干擾，例如通過對(duì)系統(tǒng)添加低通濾波器來抑制試驗(yàn)電壓供電源中的干擾；通過對(duì)試驗(yàn)室進(jìn)行屏蔽來抑制電磁場(chǎng)輻射的干擾；通過可靠接地來抑制閑置設(shè)備等的懸浮帶電金屬體引起的懸浮帶電體放電的干擾。局部放電測(cè)量
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